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GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:

GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試儀
GUT-6000B是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件達(dá)1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量多種器件的解決方案。

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GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試儀

GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試儀

GUT-6000B是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件達(dá)1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量多種器件的解決方案。

特點(diǎn):

l Loop 測(cè)試

l 自動(dòng)搜尋IC 編號(hào)功能

l 開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能

l 過載保護(hù)功能

l 可量測(cè)之IC 種類超過1800 種

l 54/74 系列TTL

l 4000 及4500 系列CMOS

l 最大可測(cè)Pin 數(shù): 28 Pin

快速選型

型號(hào)測(cè)試檔位測(cè)試電壓測(cè)試時(shí)間測(cè)試管腳
GUT-6600A74/54/40/45、Drive2xxx2.5/3.0/3.3/5V0.6s14-24Pin
GUT-6000B74/54/40/45、Drive22.5/3.0/3.3/5V0.6s28-Pin



詳細(xì)規(guī)格
測(cè)試范圍

54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE
量測(cè)種類

約 1800 種
測(cè)試電壓

2.5/3.0/3.3/5V DC
測(cè)試時(shí)間

高測(cè)試速度,平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC
使用電源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量

335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm,約 1.5 公斤




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